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 半導体関連

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バッチ式酸化膜
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ID認識ユニット

自動エキスパンド(UV付)装置

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装置

転写式レーザー

マーキング装置

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 画像関連

自動特性検査装置(Type1)

自動特性検査装置(Type2)

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GD認識前研装置(Type2)

チップ検査装置

一体型
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干渉縞検査装置

アジマス検査装置

アジマス・突出・割出し検査装置

ランク分類装置

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干渉縞検査
顕微鏡ユニット

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 一般産機

レーザー
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導通検査装置

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